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半导体工艺水平可制成分辨率8位和取样率4GS/S的ADC或者分辨率12位和取样率800MS/S的ADC，亦即，原理上仪器可达到2GHz的带宽，为了扩展频率上限，可在ADC前端增加下变频器，本振采用数字调谐振荡器。这种混合式的频谱分析仪可扩展到几GHz以下的频段使用。
此快速流畅的频谱分析仪，让听音乐更有动感，更欢乐。此应用程序用麦克风分析音乐然后显示多姿多彩的频谱。只需把手机放在音响或收音机附近，多姿多彩的频谱即将出现。
系统测量配置：配置是测量之前把测量的一些参数输入进去，省去每次测量都进行一次参数输入。内容：测试项目、信号输入方式（频率还是频道）、显示单位、制式、噪声测量带宽和取样点、测CTB、CSO的频率点、测试行选通等。
测试准备
1．限制性保护：规定高输入射频电平和造成性损坏的高电压值：直流25V，交流峰峰值100V。
2．预热：测试须等到OVER COLD消失。
3．自校：使用三个月，或重要测量前，要进行自校。
把被测信号与仪器内的基准频率、基准电平进行对比。因为许多测量的本质都是电平测试，如载波电平、A/V、频响、C/N、CSO、CTB、HM、CM以及数字频道平均功率等。
量测设备的输入阻抗有时无法匹配待测件连接线特性阻抗，根据电磁理论，阻抗匹配时，输出功率大且没有其它不良的副作用，而阻抗不匹配，将造成信号反射，影响系统频率的稳定与造成信号功率的损失。
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